description
Cet appareil est un 4D Systems Model 280 Automatic Four Point Probe Meter, conçu pour mesurer la résistance de la feuille des wafers semi-conducteurs.
Le système s'allume correctement, mais nous ne disposons pas du logiciel ou des accessoires nécessaires pour effectuer d'autres tests. Nous n'avons pas les connaissances techniques ou l'expertise pour vérifier la fonctionnalité. Pour cette raison, il est vendu en l'état, sans garantie de fonctionnement ou d'étalonnage.
Caractéristiques :
- Compatible avec les tailles de plaquettes : 100 mm, 125 mm, 150 mm, 200 mm
- Convient aux matériaux de type P et de type N
- Comprend tous les composants illustrés sur les photos
- Le panneau avant et les boutons semblent intacts
- Aucun logiciel, accessoire ou câble n'est inclus, sauf indication contraire.
Les acheteurs connaissant ce modèle peuvent être en mesure de le restaurer ou de l'utiliser comme pièce détachée.
Veuillez noter que cette description a pu être traduite automatiquement, merci de nous contacter si vous avez besoin d'informations complémentaires. Les informations de cette annonce ne sont données qu'à titre indicatif. Nous recommandons de les vérifier avec le vendeur avant tout achat